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簡要描述:微焦點(diǎn)X射線檢查裝置SMX-800觸摸屏顯示器及控制桿、直觀的用戶界面、全新設(shè)計(jì)的高速 載物臺,都大大減少了檢查時(shí)啟動(dòng)程序所用時(shí)間。
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微焦點(diǎn)X射線檢查裝置SMX-800產(chǎn)品信息
用指尖實(shí)際感受真正的高效處理。品質(zhì)管理現(xiàn)場,經(jīng)常要求高效率。SMX-800就是為滿足這些需求而開發(fā)的裝置。
觸摸屏顯示器及控制桿、直觀的用戶界面、全新設(shè)計(jì)的高速 載物臺,都大大減少了檢查時(shí)啟動(dòng)程序所用時(shí)間。
誰都可以簡單迅速地觀察、檢測到基板及電子零部件內(nèi)部的細(xì)微缺陷。
配合各種情況,設(shè)定觀察條件。
與現(xiàn)在的模擬相機(jī)所拍攝圖像相比,可得到更加鮮明、且無失真的圖像。
可以用一覽表的形式顯示計(jì)量結(jié)果,便于確定不良點(diǎn)所在位置。
最大倍率時(shí)的視野尺寸約為3mm。
(圖像是0.7mm的圓珠筆筆尖)
最大視野尺寸約為48mm。
只需觀察一次,即可確認(rèn)外形尺寸為
42.8mm*36.4mm的CF卡全景圖像。
可確認(rèn)BGA芯片的各種貼裝不良情況
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